A new algorithm for dynamic faults detection in RAMs

  1. Azimane, M.
  2. Majhi, A.
  3. Gronthoud, G.
  4. Lousberg, M.
  5. Eichenberger, S.
  6. Ruiz, A.L.
Actas:
Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium

ISBN: 9780769523149

Ano de publicación: 2005

Páxinas: 177-182

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/VTS.2005.9 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus