Impact of device geometry of the fin Electron-Hole Bilayer Tunnel FET
- Alper, C.
- Padilla, J.L.
- Palestri, P.
- Ionescu, A.M.
ISSN: 1930-8876
ISBN: 9781509029693
Année de publication: 2016
Volumen: 2016-October
Pages: 307-310
Type: Communication dans un congrès