Highly Reliable Quadruple-Node Upset-Tolerant D-Latch

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Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2022

Volumen: 10

Páginas: 31836-31850

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2022.3160448 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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