Statistical supervised learning with engineering data: a case study of low frequency noise measured on semiconductor devices
- Gámiz, M.L.
- Kalén, A.
- Nozal-Cañadas, R.
- Raya-Miranda, R.
ISSN: 1433-3015, 0268-3768
Datum der Publikation: 2022
Ausgabe: 120
Nummer: 9-10
Seiten: 5835-5853
Art: Artikel