Statistical supervised learning with engineering data: a case study of low frequency noise measured on semiconductor devices
- Gámiz, M.L.
- Kalén, A.
- Nozal-Cañadas, R.
- Raya-Miranda, R.
ISSN: 1433-3015, 0268-3768
Ano de publicación: 2022
Volume: 120
Número: 9-10
Páxinas: 5835-5853
Tipo: Artigo