Parameter extraction techniques for the analysis and modeling of resistive memories

  1. Maldonado, D.
  2. Aldana, S.
  3. González, M.B.
  4. Jiménez-Molinos, F.
  5. Campabadal, F.
  6. Roldán, J.B.
Revista:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Año de publicación: 2022

Volumen: 265

Tipo: Revisión

DOI: 10.1016/J.MEE.2022.111876 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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