Automatizacion del test parametrico como herramienta de analisis y desarrollo de tecnologia microelectronica
- PERELLO GARCIA, CARLES
- Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Doktorvater/Doktormutter
Universität der Verteidigung: Universitat Autònoma de Barcelona
Jahr der Verteidigung: 1992
- Francisco Serra Mestres Präsident/in
- Manuel Lozano Fantoba Sekretär/in
- José Millán Gómez Vocal
- Juan Enrique Carceller Beltrán Vocal
- Carles Ferrer Ramis Vocal
Art: Dissertation
Zusammenfassung
El aumento en la densidad y superficie ocupada por los circuitos integrados obliga a optimizar la fase de test.En el trabajo se propone una metodologia que tiende a automatizar las etapas de diseño de estructuras de test, la adquisicion de parametros a partir de medidas electricas en estas y el analisis estadistico de los mismos.Se ha desarrollado una libreria de estructuras de test electrico que permite generarlas para la tecnologia que sea objeto de estudio.Se ha puesto a punto un sistema de cartografiado y adquisicion de medidas que incluye una libreria de caracterizacion basica de tecnologia y que incluye un extractor de parametros para el modelo spice level 3 de simulacion de circuitos.