Automatizacion del test parametrico como herramienta de analisis y desarrollo de tecnologia microelectronica

  1. PERELLO GARCIA, CARLES
Supervised by:
  1. Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Director

Defence university: Universitat Autònoma de Barcelona

Year of defence: 1992

Committee:
  1. Francisco Serra Mestres Chair
  2. Manuel Lozano Fantoba Secretary
  3. José Millán Gómez Committee member
  4. Juan Enrique Carceller Beltrán Committee member
  5. Carles Ferrer Ramis Committee member

Type: Thesis

Teseo: 35695 DIALNET

Abstract

El aumento en la densidad y superficie ocupada por los circuitos integrados obliga a optimizar la fase de test.En el trabajo se propone una metodologia que tiende a automatizar las etapas de diseño de estructuras de test, la adquisicion de parametros a partir de medidas electricas en estas y el analisis estadistico de los mismos.Se ha desarrollado una libreria de estructuras de test electrico que permite generarlas para la tecnologia que sea objeto de estudio.Se ha puesto a punto un sistema de cartografiado y adquisicion de medidas que incluye una libreria de caracterizacion basica de tecnologia y que incluye un extractor de parametros para el modelo spice level 3 de simulacion de circuitos.