Automatizacion del test parametrico como herramienta de analisis y desarrollo de tecnologia microelectronica

  1. PERELLO GARCIA, CARLES
Zuzendaria:
  1. Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universitat Autònoma de Barcelona

Defentsa urtea: 1992

Epaimahaia:
  1. Francisco Serra Mestres Presidentea
  2. Manuel Lozano Fantoba Idazkaria
  3. José Millán Gómez Kidea
  4. Juan Enrique Carceller Beltrán Kidea
  5. Carles Ferrer Ramis Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 35695 DIALNET

Laburpena

El aumento en la densidad y superficie ocupada por los circuitos integrados obliga a optimizar la fase de test.En el trabajo se propone una metodologia que tiende a automatizar las etapas de diseño de estructuras de test, la adquisicion de parametros a partir de medidas electricas en estas y el analisis estadistico de los mismos.Se ha desarrollado una libreria de estructuras de test electrico que permite generarlas para la tecnologia que sea objeto de estudio.Se ha puesto a punto un sistema de cartografiado y adquisicion de medidas que incluye una libreria de caracterizacion basica de tecnologia y que incluye un extractor de parametros para el modelo spice level 3 de simulacion de circuitos.