Correction of Secondary Fluorescence across Phase Boundaries in Electron Probe Microanalysis of Mineral Inclusions

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Año de publicación: 2020

Volumen: 26

Número: 5

Páginas: 895-905

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927620024393 GOOGLE SCHOLAR
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