Dependence of the optical cross section of interface states on the photon energy at Si-SiO2 structures

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Zeitschrift:
Surface Science

ISSN: 0039-6028

Datum der Publikation: 1986

Ausgabe: 168

Nummer: 1-3

Seiten: 665-671

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0039-6028(86)90898-8 GOOGLE SCHOLAR