Dependence of the optical cross section of interface states on the photon energy at Si-SiO2 structures

  1. Herms, A.
  2. Morante, J.R.
  3. Samitier, J.
  4. Cornet, A.
  5. Cartujo, P.
  6. Lora-Tamayo, E.
Aldizkaria:
Surface Science

ISSN: 0039-6028

Argitalpen urtea: 1986

Alea: 168

Zenbakia: 1-3

Orrialdeak: 665-671

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/0039-6028(86)90898-8 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus