Temperature and Gate Leakage Influence on the Z(2)-FET Memory Operation
- Marquez, C.
- Navarro, S.
- Navarro, C.
- Salazar, N.
- Galy, P.
- Cristoloveanu, S.
- Gamiz, F.
ISSN: 1930-8876
ISBN: 978-1-7281-1539-9
Año de publicación: 2019
Páginas: 238-241
Congreso: 49th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
Tipo: Aportación congreso