Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETs

  1. Mitrovic, N.
  2. Guirado, D.
  3. Dankovic, D.
  4. Palma, A.J.
  5. Ristic, G.
  6. Carvajal, M.A.
Actas:
2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2023

ISBN: 9798350347760

Año de publicación: 2015

2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2023

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/MIEL58498.2023.10315908 GOOGLE SCHOLAR
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