Why are SCE overestimated in FD-SOI MOSFETs?

  1. Navarro, C.
  2. Bawedin, M.
  3. Andrieu, F.
  4. Sagnes, B.
  5. Cristoloveanu, S.
Colección de libros:
2013 PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID-STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE (ESSDERC)

ISSN: 1930-8876

ISBN: 978-1-4799-0649-9

Año de publicación: 2013

Páginas: 304-307

Congreso: 43rd Conference on European Solid-State Device Research

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS