ELECTRÓNICA Y TECNOLOGÍA DE COMPUTADORES
Departament
Philips Research Eindhoven
Amsterda, HolandaPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Philips Research Eindhoven (2)
2005
-
A new algorithm for dynamic faults detection in RAMs
Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium
2001
-
A special march test to detect delay coupling faults for RAMS
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems