Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2017

Volumen: 78

Páginas: 38-45

Tipo: Revisión

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.07.093 GOOGLE SCHOLAR