Characterization of oxygen related defects in silicon p-n junctions

  1. Jiménez Tejada, J.A.
  2. López Villanueva, J.A.
  3. Godoy, A.
  4. Gómez-Campos, F.M.
  5. Rodríguez-Bolívar, S.
  6. Carceller, J.E.
Actes:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Any de publicació: 2005

Volum: 2005

Pàgines: 37-40

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504300 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus