Characterization of oxygen related defects in silicon p-n junctions
- Jiménez Tejada, J.A.
- López Villanueva, J.A.
- Godoy, A.
- Gómez-Campos, F.M.
- Rodríguez-Bolívar, S.
- Carceller, J.E.
Konferenzberichte:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 2005
Seiten: 37-40
Art: Konferenz-Beitrag