Strained-Si on Si1-xGex MOSFET mobility model

  1. Roldán, J.B.
  2. Gámiz, F.
  3. Cartujo-Cassinello, P.
  4. Cartujo, P.
  5. Carceller, J.E.
  6. Roldan, A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 50

Nummer: 5

Seiten: 1408-1411

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2003.813471 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus