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Strained-Si on Si1-xGex MOSFET mobility model
Roldán, J.B.
Gámiz, F.
Cartujo-Cassinello, P.
Cartujo, P.
Carceller, J.E.
Roldan, A.
Revue
:
IEEE Transactions on Electron Devices
ISSN
:
0018-9383
Année de publication
:
2003
Volumen
:
50
Número
:
5
Pages
:
1408-1411
Type
:
Article
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DOI:
10.1109/TED.2003.813471
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