Optimum design in a JFET for minimum generation-recombination noise

  1. Godoy, A.
  2. Jiménez-Tejada, J.A.
  3. Palma, A.
  4. Carceller, J.E.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2000

Volum: 40

Número: 11

Pàgines: 1965-1968

Tipus: Article

DOI: 10.1016/S0026-2714(00)00084-6 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus