Optimum design in a JFET for minimum generation-recombination noise

  1. Godoy, A.
  2. Jiménez-Tejada, J.A.
  3. Palma, A.
  4. Carceller, J.E.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 40

Nummer: 11

Seiten: 1965-1968

Art: Artikel

DOI: 10.1016/S0026-2714(00)00084-6 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus