Optimum design in a JFET for minimum generation-recombination noise

  1. Godoy, A.
  2. Jiménez-Tejada, J.A.
  3. Palma, A.
  4. Carceller, J.E.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 40

Zenbakia: 11

Orrialdeak: 1965-1968

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/S0026-2714(00)00084-6 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus