Modeling effects of electron-velocity overshoot in a MOSFET
ISSN: 0018-9383
Argitalpen urtea: 1997
Alea: 44
Zenbakia: 5
Orrialdeak: 841-846
Mota: Artikulua
ISSN: 0018-9383
Argitalpen urtea: 1997
Alea: 44
Zenbakia: 5
Orrialdeak: 841-846
Mota: Artikulua