A high-frequency bidirectional capacitance method to study the evolution of the interface state density generated at low temperatures

  1. Lopez-Villanueva, J.A.
  2. Jimenez-Tejada, J.A.
  3. Cartujo, P.
  4. Bausells, J.
  5. Carceller, J.E.
Zeitschrift:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 1992

Ausgabe: 35

Nummer: 1

Seiten: 73-81

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0038-1101(92)90307-X GOOGLE SCHOLAR
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