A high-frequency bidirectional capacitance method to study the evolution of the interface state density generated at low temperatures
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1992
Volume: 35
Número: 1
Páxinas: 73-81
Tipo: Artigo
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1992
Volume: 35
Número: 1
Páxinas: 73-81
Tipo: Artigo