Memory Operation of Z²-FET without Selector at High Temperature

  1. Kwon, S.
  2. Navarro, C.
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Revista:
IEEE Journal of the Electron Devices Society

ISSN: 2168-6734

Año de publicación: 2021

Volumen: 9

Páginas: 658-662

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/JEDS.2021.3094104 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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