Active radiation-hardening strategy in bulk FinFETs

  1. Calomarde, A.
  2. Rubio, A.
  3. Moll, F.
  4. Gamiz, F.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2020

Volumen: 8

Páginas: 201441-201449

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2020.3035974 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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