Systematic method for electrical characterization of random telegraph noise in MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Gamiz, F.
  4. Ohata, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Any de publicació: 2017

Volum: 128

Pàgines: 115-120

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.SSE.2016.10.031 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus