Systematic method for electrical characterization of random telegraph noise in MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Gamiz, F.
  4. Ohata, A.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 128

Seiten: 115-120

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.SSE.2016.10.031 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus