Systematic method for electrical characterization of random telegraph noise in MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Gamiz, F.
  4. Ohata, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2017

Volume: 128

Páxinas: 115-120

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2016.10.031 GOOGLE SCHOLAR
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