Direct point-contact characterization of Bias instability on bare SOI wafers

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Fernandez, C.
  4. Ohata, A.
  5. Gamiz, F.
  6. Allibert, F.
  7. Cristoloveanu, S.
Actes de conférence:
2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference, S3S 2013

ISBN: 9781479913602

Année de publication: 2013

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/S3S.2013.6716529 GOOGLE SCHOLAR
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