The quantization impact of accumulated carriers in silicide-gated MOSFETs
- Rodriguez, N.
- Gamiz, F.
- Clerc, R.
- Ghibaudo, G.
- Cristoloveanu, S.
ISSN: 0741-3106
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 29
Nummer: 6
Seiten: 628-631
Art: Artikel
ISSN: 0741-3106
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 29
Nummer: 6
Seiten: 628-631
Art: Artikel