The quantization impact of accumulated carriers in silicide-gated MOSFETs

  1. Rodriguez, N.
  2. Gamiz, F.
  3. Clerc, R.
  4. Ghibaudo, G.
  5. Cristoloveanu, S.
Aldizkaria:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Argitalpen urtea: 2008

Alea: 29

Zenbakia: 6

Orrialdeak: 628-631

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/LED.2008.921209 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus