A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate MOSFETs including quantum effects

  1. García Ruiz, F.J.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Any de publicació: 2007

Volum: 54

Número: 12

Pàgines: 3369-3377

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TED.2007.909206 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus