A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate MOSFETs including quantum effects

  1. García Ruiz, F.J.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Argitalpen urtea: 2007

Alea: 54

Zenbakia: 12

Orrialdeak: 3369-3377

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TED.2007.909206 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus