A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate MOSFETs including quantum effects

  1. García Ruiz, F.J.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Ano de publicación: 2007

Volume: 54

Número: 12

Páxinas: 3369-3377

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TED.2007.909206 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus