A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate MOSFETs including quantum effects

  1. García Ruiz, F.J.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 54

Nummer: 12

Seiten: 3369-3377

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2007.909206 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus