A new remote Coulomb scattering model for ultrathin oxide MOSFETs

  1. Gámiz, F.
  2. Godoy, A.
  3. Roldán, J.B.
Actas:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD

ISBN: 0780378261

Año de publicación: 2003

Volumen: 2003-January

Páginas: 47-50

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/SISPAD.2003.1233634 GOOGLE SCHOLAR
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