A comparison of models for phonon scattering in silicon inversion layers
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1995
Volum: 77
Número: 8
Pàgines: 4128-4129
Tipus: Revisió
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1995
Volum: 77
Número: 8
Pàgines: 4128-4129
Tipus: Revisió