A comparison of models for phonon scattering in silicon inversion layers
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 1995
Ausgabe: 77
Nummer: 8
Seiten: 4128-4129
Art: Rezension
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 1995
Ausgabe: 77
Nummer: 8
Seiten: 4128-4129
Art: Rezension