A comparison of models for phonon scattering in silicon inversion layers
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1995
Volume: 77
Número: 8
Páxinas: 4128-4129
Tipo: Revisión
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1995
Volume: 77
Número: 8
Páxinas: 4128-4129
Tipo: Revisión