Surface roughness scattering model for arbitrarily oriented silicon nanowires

  1. Tienda-Luna, I.M.
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Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2011

Volumen: 110

Número: 8

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.3656026 GOOGLE SCHOLAR
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