Test pattern generation for analog circuits using neural networks and evolutive algorithms

  1. Bernier, J.L.
  2. Merelo, J.J.
  3. Ortega, J.
  4. Prieto, A.
Colección de libros:
Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics)

ISSN: 1611-3349,  0302-9743

ISBN: 9783540594970

Año de publicación: 1995

Volumen: 930

Páginas: 838-844

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1007/3-540-59497-3_258 GOOGLE SCHOLAR
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