Universal Built-In Self-Test Procedure for CMOS PLA’s

  1. Ortega, J.
  2. Prieto, A.
  3. Lloris, A.
  4. Pelayo, F.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Circuits and Systems

ISSN: 0098-4094

Datum der Publikation: 1991

Ausgabe: 38

Nummer: 8

Seiten: 941-945

Art: Artikel

DOI: 10.1109/31.85635 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus