Universal Built-In Self-Test Procedure for CMOS PLA’s

  1. Ortega, J.
  2. Prieto, A.
  3. Lloris, A.
  4. Pelayo, F.
Revista:
IEEE Transactions on Circuits and Systems

ISSN: 0098-4094

Ano de publicación: 1991

Volume: 38

Número: 8

Páxinas: 941-945

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/31.85635 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus