Universal Built-In Self-Test Procedure for CMOS PLA’s

  1. Ortega, J.
  2. Prieto, A.
  3. Lloris, A.
  4. Pelayo, F.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Circuits and Systems

ISSN: 0098-4094

Argitalpen urtea: 1991

Alea: 38

Zenbakia: 8

Orrialdeak: 941-945

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/31.85635 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus