New short and efficient algorithm for testing random-access memories

  1. Azimane, M.
  2. Ruiz, A.L.
Actas:
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems

ISBN: 0780350081

Año de publicación: 1998

Volumen: 1

Páginas: 541-544

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ICECS.1998.813380 GOOGLE SCHOLAR