Statistical supervised learning with engineering data: a case study of low frequency noise measured on semiconductor devices

  1. Gámiz, M.L.
  2. Kalén, A.
  3. Nozal-Cañadas, R.
  4. Raya-Miranda, R.
Revista:
International Journal of Advanced Manufacturing Technology

ISSN: 1433-3015,  0268-3768

Año de publicación: 2022

Volumen: 120

Número: 9-10

Páginas: 5835-5853

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S00170-022-08949-Z GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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